透射电子显微镜是一种提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操控和电学测量。

　　原位样品杆适合ETEM和TEM中的原位高温实验，其对功率消耗和样品热漂移进行了优化以获得好的性能。该样品杆的高性能原材料和热管理系统可帮助科学家对高温下的样品进行原子分辨率的快速拍照与观察。能够在透射电镜（TEM）内为样品提供可加热的气氛环境。使得TEM能够观察样品的微观结构（例如原子结构）在气氛环境中的演变过程，以直接揭示样品结构与其气固界面反应性质之间的科学关系。

　　原位样品杆能够在透射电镜内完成原位加热，电学以及加热电学同时进行的相关实验。

　　原位样品杆可帮助科学家对流动或静态液体进行原子分辨率的观察。随着科学技术的飞速发展，普通透射电镜（TEM）已经不能满足科学家的科研需求。而在透射电镜基础上发展而来的原位技术，能够突破现有透射电镜对于真空度要求的限制，利用现有电镜平台即可完成原位气体环境及加热功能，使科研工作者能够在更宽的参数（气体，气压，温度）范围内研究材料。大大的拓展了透射电镜的应用范围，有效提高科学家原位纳米尺度的研究手段。